Kajian ini bertujuan untuk melakukan pencirian morfologi, optik dan struktur bagi mengkaji kehadiran partikel-partikel nano CdS dan CdSe yang tertanam di antara matriks P3HT peranti filem nipis hibrid organik dan tak organik menggunakan teknik Pemendapan Angkutan Sudut (ALD) dan kaedah dedahan gas yang mudah, cepat dan berkos rendah. Penyelidikan bermula dengan menentukan kesan kehadiran ion Cd2+ dalam larutan P3HT, asid stearik (SA) dan P3HT:SA yang dicirikan dengan isoterma tekanan permukaan-luas yang dikawal oleh komputer. Peranti filem nipis disediakan dengan memendapkan P3HT, SA dan ion Cd2+ (dalam kemolaran 0.5 dan 1.0 mM CdCl2) ke atas substrat silikon dan kuarza menggunakan teknik ALD dan dedahan kepada gas H2S atau H2Se selama 2, 4, 6 dan 15 jam. Peranti filem nipis organik-tak organik dicirikan menggunakan FESEM, EDX, AFM, spektroskopi Raman dan UVVis. Pencirian isoterma tekanan permukaan-luas menunjukkan purata keluasan dan saiz molekul P3HT, SA dan P3HT:SA menin.....

921 hits